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集成电路电极用高纯钛靶材

材质:TA0, TA1, TA2

执行标准: SEMI F72-1101 、 ASTM F76 、 GB/T 3620-2016 、 JIS H 2151

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发布日期: 2025-04-03 17:58:31

全国热线: 0917-3396777

详细描述 / Detailed description

集成电路电极用高纯钛靶材是以纯度≥99.995%(5N)的纯钛为基材‌,依据晶粒尺寸≤30μm(超细晶≤10μm)‌、致密度≥99.5%‌等标准,通过真空熔炼-精密加工工艺制成的溅射材料,具有低电阻率(5.5×10⁻⁷ Ω·m)、高热导性及强粘附力‌,专用于半导体芯片电极层、铜/铝互连结构及阻挡层溅射镀膜‌,可提升集成电路导电稳定性与器件可靠性‌。以下是中扬金属针对集成电路电极用高纯钛靶材的详细介绍:

一、高纯钛靶材在集成电路中的定义

项目描述
定义高纯钛靶材是由纯度≥99.999%(5N)的钛制成的平板或旋转靶材,用于物理气相沉积(PVD)或溅射工艺形成集成电路电极薄膜。
核心用途半导体晶圆上的导电层(如栅极、接触层)、阻挡层(防止铜扩散)及钝化层。
形态特征尺寸:直径200-450mm(12英寸晶圆适配)、厚度5-20mm;表面粗糙度≤0.1μm(Ra)。

二、材质与纯度要求

分类纯度等级关键杂质限值(ppm)适用工艺
5N级钛靶≥99.999%Fe≤5, O≤30, C≤10, N≤5先进制程(≤7nm节点)的铜互连阻挡层
6N级钛靶≥99.9999%Fe≤1, O≤10, C≤5, U/Th≤0.01高可靠性存储芯片(3D NAND、DRAM)
合金靶材Ti-W/Ti-N添加W(5-10%)或N(1-3%)高功率器件电极(降低电阻率、抗电迁移)

三、性能特点

性能指标具体表现
纯度5N级杂质总量≤100ppm,避免晶格缺陷导致的漏电流或短路。
结晶取向(002)或(110)择优取向(织构控制),提升溅射膜均匀性(不均匀度≤3%)。
密度≥98%理论密度(4.51g/cm³),减少溅射过程中的颗粒飞溅。
热稳定性高温(500℃)下无相变,确保薄膜在退火后无开裂或剥离。
导电性电阻率≤50nΩ·m(纯钛靶),合金靶可降至15nΩ·m(Ti-W)。

四、执行标准

标准类型标准编号覆盖内容
国际标准SEMI F72-1101半导体用钛靶材化学成分与表面质量规范
行业规范ASTM F76电子级钛材痕量元素检测方法(GDMS/SIMS)
中国国标GB/T 3620-2016高纯钛靶材尺寸公差与晶粒取向要求
特殊规范JIS H 2151溅射靶材密度与显微组织检测标准

五、加工工艺与关键技术

工艺环节关键技术
原料提纯电子束熔炼(EBM)+ 区域熔炼(Zone Refining),将海绵钛提纯至6N级。
粉末冶金热等静压(HIP)成型(1200℃/150MPa),消除孔隙并细化晶粒(平均晶粒尺寸≤50μm)。
轧制与退火多向交叉轧制(CCR)优化织构,真空退火(800℃/4h)释放应力。
精密加工超精密磨床(金刚石砂轮)加工表面,平面度≤0.02mm/200mm。
清洗包装超净间内等离子清洗(Ar气),真空密封包装(洁净度Class 1)。

六、具体应用领域

应用场景薄膜功能靶材类型性能要求
逻辑芯片铜互连阻挡层(TiN/Ti)5N级纯钛靶+反应溅射(N₂)厚度均匀性≤2%(3σ)、抗铜扩散
存储芯片电容电极(Ti/TiOx)6N级钛靶+氧化溅射(O₂)高介电常数(k>80)、低漏电流
功率器件源/漏极接触层(Ti-W)Ti-10W合金靶低接触电阻(<1Ω·mm)、耐高温
先进封装TSV(硅通孔)种子层高纯钛靶+电镀铜阶梯覆盖率>95%(深宽比10:1)

七、与其他靶材的对比分析

对比项钛靶材钽靶材(Ta)铝靶材(Al)
电阻率50nΩ·m15nΩ·m27nΩ·m
抗电迁移优(熔点1668℃)极优(熔点3017℃)差(熔点660℃)
成本中高(提纯难度大)高(资源稀缺)
工艺适配性需反应溅射(如TiN)可直接溅射(TaN)易氧化需真空保护
主流应用28nm以下节点阻挡层10nm以下超薄阻挡层传统互连(>90nm节点)

八、未来发展新方向

方向技术突破潜在应用
超高纯度7N级钛靶(杂质≤0.1ppm),采用悬浮区熔技术(FZ)2nm以下制程量子器件电极
复合靶材钛-石墨烯复合靶(提升导电性+散热)高功率GaN器件散热电极
大尺寸化18英寸(450mm)钛靶制造技术(晶圆厂下一代线宽需求)降低芯片制造成本
绿色制造钛靶废料氢化-脱氢(HDH)回收技术(回收率>95%)减少稀有金属资源消耗
智能化检测AI驱动的靶材缺陷实时识别(基于SEM/TEM图像分析)零缺陷靶材批量生产
低温工艺低温溅射钛靶(≤200℃)适配柔性电子(PI/PET基板)可折叠显示面板、柔性传感器电极

总结

集成电路电极用高纯钛靶材是摩尔定律延续的核心材料之一,其技术难点在于“超纯+超均匀+超精密”三位一体。未来需聚焦:

极限纯度:突破7N级提纯技术,满足亚纳米级器件需求;

异质集成:开发钛-二维材料(MoS₂、hBN)复合靶,提升薄膜功能性;

成本优化:通过靶材再生与超大尺寸化降低先进制程成本。

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